TCVN 11344-44:2020 - Linh kiện bán dẫn – Phương pháp thử nghiệm cơ khí và khí hậu – Phần 44: Phương pháp thử nghiệm hiệu ứng sự kiện đơn lẻ được chiếu xạ bởi chùm tia nơtron dùng cho các linh kiện bán dẫn

Phạm vi áp dụng & mô tả

31.080.01 | ICS: 31.080.01 | Không

Tên EN: Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices Không Phạm vi: Không Văn bản công bố: 31-12-2020,3942/QĐ-BKHCN Nhóm: Quan_Ly_Chat_Luong_Do_Luong Từ khóa: phương pháp thử Nguồn: https://nqi.gov.vn/tieu-chuan/tcvn?id=16955

Thông tin nhanh